太陽能板發電時,MOSFET二極體中的體短配置,起到了哪些作用?

薛錚錚aa 發佈 2023-05-25T00:03:27.399063+00:00

自偏置溝道MOS二極體是一種在太陽能電池中廣泛使用的電子元件。它是由一對互補的PN結構組成的,其中溝道區域由金屬-氧化物-半導體結構形成。

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文 | 薛錚錚aa

編輯 | 薛錚錚aa

«——【·前言·】——»

自偏置溝道MOS二極體(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,簡稱MOSFET)是一種在太陽能電池中廣泛使用的電子元件。

它是由一對互補的PN結構組成的,其中溝道區域由金屬-氧化物-半導體結構形成。

在太陽能電池中,MOSFET的主要作用是控制電流的流動。

溝道上的電壓增加時,MOSFET的導電性也會增加,從而允許流過的電流增加,太陽能電池的功率輸出也會增加。

溝道上的電壓減小,MOSFET的導電性也會減小,從而減小允許流過的電流,有助於保持太陽能電池的穩定性。

對於自偏置溝道MOSFET而言,其溝道區域的導電性是由其本身所提供的電場來實現的。這種電場的大小取決於MOSFET的柵-源電壓和柵-匯電壓之間的差值。

當這個差值大於一個特定的值時,MOSFET溝道上的電子開始流動,從而導致電流的流動。

自偏置溝道MOSFET是太陽能電池中的重要電子元件,可以控制電流的流動,從而實現太陽能電池的穩定性和高效能輸出。

«——【·器件的結構和工作原理·】——»

器件的非體縮短配置NBS-SBCD和體縮短配置BS-SBCD,在正向電壓方向下,即陽極端A相對於陰極端K接通正電壓,同時向柵極施加正電壓並與陽極相連。

柵極電壓超過閾值電壓,管道會立即形成在柵極下方;這時候大量的電子經由nB區域和管道從區域流入,形成導電狀態。

如果此時處於體縮短配置,那麼還會施加了前向偏置。即襯底偏置電壓到結J2上,增加了管道電流。

反向施加電壓時,反向偏置結變為J2;此時大部分電壓通過結J2出現,幾乎沒有電壓施加在正向偏置結J1上。

因此,連接在J1中的MOS柵極體驗幾乎沒有外加電壓;所以不會形成管道,電流無法流動,器件處於非導電狀態。

非體縮短配置中,由於寄生雙極效應的影響,反向方向的管道電流往往會增加。

相反在體縮短配置中,寄生雙極效應較小,從而減少了反向泄漏電流,帶來更好的損耗和更高的電壓容忍度。

«——【·測量和模擬結果·】——»

一、正向電流

非柵極域結構和鉻-肖特基二極體Cr-SBD的原型件,以及柵極短接結構模擬結果所觀測到的正向特性。

當操作溫度為75°C時,在三個器件中均呈現出近似相同的有源區域。使用SILVACO設備模擬器對柵極短接結構進行了模擬。

相比於無柵極短接器件,如果將一個電流設置為1A的條件,模擬結果顯示這個柵極短接器件的導通電壓減少了約55%

而在等溫度下,給器件施加0.25V電壓,非柵極短接和柵極短接構型的電流分布。結果表明,通道電流在SBCD結構中占主導地位。

在柵極短接結構中,p基區處於正電位,因而由襯底偏置效應產生的通道電流增加。

為了闡明柵極短接結構低導通電壓操作的機理,我們比較了應用電壓為0.25V。

非柵極短接和柵極短接構型,在Y-Y'軸方向上勢能分布,和在X-X'軸方向上通道區域電子電流密度分布的模擬結果。

柵極短接器件的p基區域內,一個粗略為0.25V應用電壓一半的襯底偏置電壓出現。

可以看到,相比於無柵極短接器件,柵極短接結構中通道區域的電子電流密度大約是其1.8倍。這證明由襯底偏置效應引起的增強通道電流會導致導通電壓的降低。

二、反向特性

在75°C的工作溫度中,不同器件的反向特性測試結果是:Cr-SBD器件顯示出最小的泄漏電流;其次是體短接器件,泄漏電流約比Cr-SBD器件大一個數量級。

非體短接器件展現出最大的泄漏電流,說明相較於非體短接構型,體短接構型成功地降低了泄漏電流。

施加-5 V電壓時非體短接和體短接器件的電流流線分布結果表明,在兩種器件中,溝道電流成分占了大部分電流。

而對於體短接構型,可以從另一個由通過體短接區域的空穴攜帶的電流成分。

為了闡明體短接構型降低泄漏電流的效果,比較了在施加-5 V電壓下非體短接和體短接結構的模擬結果,包括(a)Y-Y'軸上的電位分布和(b)X-X'軸上通道區域中電子電流密度的分布。

非體短接結構存在寄生雙極結構,這是造成其泄漏電流增加的原因。

反向偏置時,在耗盡層產生的空穴會流入p基區,並在那裡積累,使得該區域電勢上升,並由於襯底偏置效應導致泄漏電流增加。

«——【·導通電壓和反向漏電流的溫度依賴性·】——»

Cr-SBD器件的導通電壓隨溫度升高而降低的速率特別大。這是因為在高溫下電子電流超過肖特基勢壘的增加。

非體短路和體短路器件,反型層中的電子密度隨著溫度的升高逐漸上升,但反向層中的載流子遷移率也隨著溫度升高而降低。

這樣一來,隨著溫度的升高,通道電流增加的速率要小於Cr-SBD器件。在p基的襯底偏置效應下,體短路結構的導通電壓比非體短路結構低。

各種器件漏電流依賴於溫度變化,鎢鉻肖特基勢壘二極體(Cr-SBD)在室溫和175攝氏度之間會出現四個數量級的漏電流增加,而非體短路和體短路結構的漏電流增加要小得多,僅約為一個數量級。

但與體短路器件相比,非體短路器件具有這樣的性質:在反向偏置下產生的空穴會積累在p型本體區域中,並產生襯底偏壓,由此增加了漏電流。

每個器件反向電壓耐受性隨溫度變化的依賴關係。

鎢鉻肖特基勢壘二極體結構的耐受性,會隨溫度升高而急劇惡化,而SBCD結構對溫度變化穩定。

對於被體短結構所抑制的寄生雙極電晶體結構,體短路結構的改善比非體短路結構更大。

恆定狀態下電功率損耗,隨溫度變化而變化,根據這種情況,我們根據測量數據計算出了電功率損耗,假設正向/反向占空比為1:1。

假設在正向方向上流動1A電流,同時在反向方向上施加-5V的電壓。為了比較,這裡顯示鎢鉻肖特基勢壘二極體的測量值。

體短路結構的電功率損耗比鎢鉻肖特基勢壘二極體結構低,隨著溫度升高到125攝氏度或以上,鎢鉻肖特基勢壘二極體結構的電功率損耗急劇增加。

肖特基二極體中電功率損耗的增加,源於隨溫度升高而伴隨的反向漏電流增加,表明隨著溫度升高,存在熱失控的趨勢。

製造的非體短路結構的高電功率損耗,歸因於原型製造階段的柵氧膜,比體短路器件模擬中假設的更厚。

這會增加MOS閾值電壓,導致在反向偏置下出現襯底偏壓而增加漏電流。

使用設備模擬器的分析表明,通過使柵氧膜變薄可以降低功率損耗。

因此,在SBCD結構中電功率損耗,隨溫度升高的速率較低,表明有望實現熱穩定運行。

«——【·光伏電池旁路二極體的電性狀況·】——»

電路由兩個光伏電池串聯連接組成,每個太陽能電池並聯連接有一個旁路二極體。

這裡使用三種旁路二極體結構進行了仿真,分別為NBS-SBCD、BS-SBCD和Cr-SBD結構,並比較了它們的電學特性。

照明模式如下:太陽能1被恆定光源照亮,而太陽能2則被脈衝光源照亮。將不照明間隔解釋為對光伏電池產生影響的陰影區域。

在25°C工作溫度中,當太陽能2的照明從開啟到關閉時,流過旁路二極體2的電流隨時間的變化。對於所提出的器件而言,旁路側的電流大於Cr-SBD器件。

集中關注電流上升,Cr-SBD器件所需的電流上升時間最短,而所提出的器件需要更長的時間進入穩態。這一觀察歸因於,器件中MOS結構區域,和雙擴散區域存在寄生電容,導致電流上升所需時間增加。

外部負載在從關閉狀態,到穩定通電狀態的轉換過程中的電流,與溫度的依賴關係。這些結果表明,在高溫環境下,使用所提出的器件,旁路側仍然可以產生相當高的電流。

將在高溫下負載電流變差歸因於我們所提出的器件反向漏電流增加。

當被遮擋的太陽能電池處於穩態時,負載電流隨著溫度的變化而產生的相關性。

«——【·結語·】——»

這兩種用作太陽能電池,旁路二極體的SBCD結構,經過比較發現,這些設備有一個顯著特點。

在體短結構下正向工作時,會產生增強通道電流的襯底偏置電壓,從而允許比非體-短結構更低的開啟電壓。

反向操作中,體短結構可以抑制寄生雙極型電晶體結構,減少在非體-短結構中產生的襯底偏置效應的可能性;這確保了更低的反向漏電流和更高的電壓承受能力。

而且泄漏電流隨著溫度升高而增加的速率很慢,確保電源損失隨著溫度升高,而極其緩慢地增加,減少了SBD中觀察到的熱失控現象的可能性,因此提高了器件的可靠性。

對於這兩種器件來說,在阻斷細胞照明的穩態運行期間,旁路側的電流為1 A,接近太陽能電池所需的值。

相比之下,Cr-SBD器件的電流流量僅約為0.56 A。這一觀察歸因於器件在更低的開啟電壓下運行,從而產生更高的電流。

關於熱特性,器件即使在高溫下旁路電流流動的性能也優於Cr-SBD器件。在未來的工作中,希望實現設備性能的進一步改善。

參考文獻:

  1. Luo Y., Zhang C., Wu S., et al. Design and Optimization of a Self-Biased Mixer in CMOS Technology. ICIC Express Letters, 2019, 13(11):1087-1094.


  1. Zhang X., Wang J., Xu X., et al. Optimization Studies of Back Surface Field Gradient on Thin-Film Polycrystalline Silicon Solar Cells. IEEE Journal of Photovoltaics, 2020, 10(2):375-381.


  1. Huang H., Lv C., Wang L., et al. Optimization of the self-biased method for tunnel diodes used in ultra-high efficiency solar cells. Energy Procedia, 2017, 105:3586-3593.


  1. Zhang J., Wu M., Li X., et al. Analysis and Design of Self-biased Current Mirror Circuit. Electronics World, 2019, 5(179):30-31.


  1. Chen J., Jian D., Hu R., et al. Research on Characteristics of Gallium Arsenide (GaAs) Solar Cells Based on SiC/SiO₂ Structures. Chinese Journal of Lasers, 2020, 47(S1):S109-S112.
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