前言
AEC-Q101-2021規範對該裝置是否符合車規最小應力試驗驗證要求進行界定，詳細給出驗證用試驗項目及參考試驗條件，目的在判斷該裝置是否能通過規定應力試驗，其中包括加速應力測試，如HAST/UHAST/AC/H3TRB等。
試驗目的
HAST（高加速溫度和濕度壓力試驗）就是要對潮濕環境下非密封封裝器件進行可靠性評估。利用嚴酷的溫度，濕度及偏置條件來加速水穿過外部保護材料或者沿外部保護材料-金屬導體界面滲入，UHAST是不加偏置電壓，以確保能夠發現可能被偏壓掩蓋的失效機理（如電偶腐蝕）。
試驗條件
註：1.應力激發與「85/85」穩態濕度壽命試驗(JESD22-A101)有相同的失效機理。
2.對於在24小時或更短的時間內達到吸收平衡的器件，HAST試驗相當於在85℃/85%RH下至少達到1000小時。
試驗設備
試驗箱可以連續保持規定的溫度和相對濕度或壓力，同時在規定的偏置下為被測器件提供電氣連接（如需要），並保存試驗周期的相關曲線記錄，以驗證應力狀況，試驗箱用水應使用室溫下最小電阻率為1 MΩ·cm的去離子水。
試驗過程通電要求
UHAST/AC無需加偏壓，HAST/H3TRB需要加偏壓，加偏壓分為持續加壓和循環加偏壓。
1、連續通電+偏壓：若發生偏置,Tj溫度大於環境溫度≈10？C並在器件散熱低於200 mW情況下使用直流偏置持續外加偏壓方式。
2、循環加偏壓：在被測器件上加直流電壓，頻率要合適，占空比要周期。若偏置配置造成Tj溫度大於環境溫度10？C、使用循環偏壓時，由於功耗加熱容易降低水分，妨礙水分有關失效機制。對對於大多數塑料封裝的微電路，用50%的占空比循環DUT偏置是最佳的。≥2 mm厚的封裝的循環應力周期應為≤2小時，<2 mm厚的封裝應為≤30分鐘。推薦1小時通和1小時斷的循環偏置。
升降溫注意事項
1.H3TRB上升達到穩定的溫度和相對濕度條件的時間應小於3小時，應確保設備溫度始終高於露點溫度，始終避免在應力下器件表面上發生冷凝。試驗完成下降到常溫過程應少於3小時，並確保在應力下器件表面上不發生冷凝。
2.HAST/UHAST/AC在上升的第一部分降至輕微正壓（濕球溫度約為104?C）應足夠長但應少於3小時，從104？C濕球溫度放空，然後下降到常溫，不受時間限制。通過保證試驗箱內（干球）的溫度總是高於濕球溫度來保證升降溫時器件不發生冷凝。
功能檢查
測試前、中、後均需對外觀及電氣參數進行測試，電氣測試需在恢復常溫48小時之內完成。對於試驗中間要檢查電氣參數，應在恢復常溫後儘快測試，然後再放入箱內試驗，最長不的超過96小時。