半導體分立器件的參數測試，往往藉助自動測試系統來進行。今天納米軟體Namisoft小編來為大家分享一款各廠家、科研院都在用的半導體分立器件測試系統。
一、半導體分立器件系統NSAT-2000用途
NSAT-2000半導體分立器件測試系統是半導體參數測試的常用設備, 用於半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試。
二、半導體分立器件NSAT-2000系統特點
●本系統連接採用測試板的方式，不同器件採用統一接口在測試板插座上插拔，同時軟硬體具有鉗位保護，整個測試可以更加簡易、高效、安全的進行。
●與儀器之間採用VISA通信，保證對多台儀器通信的並行處理，使各個儀器的數據不會相互干擾，並能全程保持通訊狀態，不會丟包。
●ALL IN ONE模式的系統滿足對不同種類的二極體、三極體、場效應管、DC-DC模塊的基本指標的自動化測試，並採用菜單填表式的編程模式，提供各類型典型器件測試模板。
●所有儀器的連接可在硬體設置界面通過自動檢測的功能實現，並支持儀器更換品牌型號的兼容。
●所有測試線纜均採用同軸線纜，有效的避免外界電磁干擾對系統採集數據的影響，使數據更精準。
●系統測試過程中實時顯示測試進度和測試狀態，也具有對測試數據的自動化保存和歷史數據的隨時查看的功能。
●系統確保數據的準確性和運行的穩定性，為用戶提供報告模板，實現報告的多樣化和靈活性。
三、半導體分立器件NSAT-2000測試對象
二極體/穩壓管/恆流二極體/整流橋/瞬態抑制管：BVR、IR、VF、VZ、RZ
三極體：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控矽：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON
場效應管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP
IGBT：BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
達林頓矩陣：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
單結電晶體：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
光敏二、三極體：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE
光 耦（輸出類型：二極體、三極體、可控矽、MOSFET）：CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加時間測量選件Tr、Tf、Toff、Ton）
固態繼電器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
四、產品界面展示
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